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**产品描述**
Electronics Inc. (EI) TSP-M 型阿尔门测具（适用于微型试片）继承了EI #2 阿尔门测具的诸多优质特性，但其阿尔门试片平台经过专门设计，以适应更小更轻的微型试片。特性包括：
· 数字精度
· 平面校准块
· 可调磁性夹具
· 一年质保
· 英寸/毫米单位转换
· 数据端口输出
· 便捷的电池更换
· 符合 SAE J442 标准
美国专利 8,091,406 B1号
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